半导体中空玻璃露点仪

半导体中空玻璃露点仪产品用途：用于检测中空玻璃露点测试。

产品适用标准：GB/T11944-2012《中空玻璃》

半导体中空玻璃露点仪技术参数：

1、冷测头的温度：＜-60℃

2、温度分辨率：0.1℃

3、测试箱 长×宽×高（mm）：1040×550×820

4、测温精度：±0.5℃

5、时间范围：1~10min（可任意设定）

6、时间分辨率：1s

7、配带动力：交流220V,   功率：0.6Kw

8、自重：40kg

主要特点：

1、运用*的复迭式压缩机制冷技术；

2、操作简单，显示直观。

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